Analyse de structure, morphologique et topographique

Le pôle de compétence lié aux annalyse de structure, morphologique et topographique est équipé d'instruments à la pointe de la technologie pour soutenir les activités croissantes dans le domaine de la recherche sur les poudres, polymères, matériaux inorganiques et composites.

Pour l'identification des structures ainsi que l'étude de la qualité structurelle, la technique principalement utilisée est la diffraction des rayons X. Cette technique aide non seulement à l'identification des phases, mais peut aussi suivre les transformations de phase avec la température et de l'humidité.

Les MEB en mode pression contrôlée ou en vide poussé permettent de fournir des images en haute résolution ainsi que des informations chimiques et topographiques durant les analyses de la surface des matériaux. En associant cela à l'utilisation d'outils complémentaires tels que la profilométrie des surfaces 3D, l'épaisseur des revêtements et la rugosité des surfaces peuvent être déterminées. nous pouvont également d'étudier l'usure, les défauts, ainsi que l'adhésion des matériaux.

Nos capacités et nos compétences analytiques déjà été mises en œuvre dans les secteurs du verre, de l'acier, de l'emballage, de la construction et des polymères, ainsi que les industries pharmaceutique et cosmétique.

Équipements

Bruker D8 Discovery (série II) - anodes Kα Cu et Mo Kα
PANalytical X'Pert Pro - anode Cu Kα
Agilent AFM 5100 (Possibilité de travailler avec une cellules liquide)
Oxford Instruments MFP-3D Infinity AFM
Profilomètre KLA-Tencor
SEM environnemental FEI - système de détection EDX
SEM Hitatchi SU-70 - système de détection EDX/WDS

Expertise et applications possibles

Analyse des défauts et de l'usure
Analyse quantitative de phase
Identification de phase
Analyse structurale
Analyse de la texture
Analyse des contraintes résiduelles
Analyse des transformations de phase (en focntion de la température et/ou de l'humidité)
Analyse de la rugosité
Analyse nanomécanique