Combining combing and secondary ion mass spectrometry to study DNA on chips using 13C and 15N labeling
Auteurs :
A. Cabin-Flaman, A. F. Monnier, Y. Coffinier, J. N. Audinot, D. Gibouin, T. Wirtz, R. Boukherroub, H. N. Migeon, A. Bensimon, L. Jannière, C. Ripoll, and V. Norris
Référence :
F1000Research, vol. 5, art. no. 1437, 2016
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