HIM-SIMS: Correlative SE/Chemical Imaging at the Limits of Resolution

Auteurs

D. Dowsett, T. Wirtz, and L. Yedra

Référence

Microscopy and Microanalysis, vol. 23, no. S1, pp. 278-279, 2017

Lien

doi:10.1017/S1431927617002070

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